Fizeau干涉仪是*简单，用途*广泛的干涉仪之一，广泛用于平面和球形表面的常规测量。它用于测量光学组件，例如平板，棱镜，透镜，或精密金属零件，例如轴承，密封面或抛光陶瓷。可以使用静态条纹分析软件进行测量。
Holmarc Fizeau干涉仪（型号：HO-ED-INT-14）基本上带有高光学质量（λ/ 20）参考平面。测试表面的反射会干扰参考平面的反射，从而产生条纹。条纹的形状和质量取决于测试平板的表面质量。使用高分辨率CCD相机对条纹进行数字化处理。通过分析条纹，我们可以获得PV平坦度，RMS平坦度，3D表面图等。仪器竖立安装，可以轻松固定测试样品。倾斜/倾斜测试基座可使测试样品与参考表面对齐。高质量的像差校正光学设计可增强性能。
特征 可以进行高精度的平面度测量 使用静态条纹分析软件 仪器竖立放置，因此测试样品可以轻松固定 使用高质量的像差校正光学元件