CAMSIZER P4颗粒分析仪

CAMSIZER P4颗粒分析仪

功能原理

使用动态图像分析原理（ISO 13322-2）。样品通过振动给料器输送到测量场，在这里颗粒物落在平面光源和两个CCD摄像机之间。投影的粒子阴影以每秒超过60张图像的速度记录下来并进行分析。这样，几乎就记录并评估了散装物料流中的每个单个颗粒。因此，无需切换测量范围或进行调整，就可以*其准确地测量20 µm至30 mm的各种颗粒。

由于其*短的曝光时间，新颖的LED频闪光源可以产生非常清晰的图像，并且可以无失真地确定投影区域。鲜明的对比度可同时使颗粒的表面结构细节几乎像通过显微镜看到一样。闪烁的频率很高，以至于肉眼看不到频闪。

拥有独特的砖利双摄像头系统使用颗粒分析仪可以获得很高的锐利深度，从而在整个测量范围内获得*高的精度。变焦摄像头可提供*精细范围的*大分辨率，而基本摄像头还可以记录较大的颗粒，并保证结果的高度统计确定性。即使只有相对少量的样品，也可以确保CAMSIZER测量结果的出色重现性。结果至少保存在3,000个大小级别中

产品优势

• 硬件
• 尺寸范围从20 µm到30 mm
• 每次测量同时测量全尺寸范围
• 筛分分析的出色可比性，也适用于多峰分布
• 测量时间非常短（2-3分钟）
• 2台CCD相机，每张30 fps和1.3 Mpixel
• 高亮度，长寿命的脉冲LED光源
• 软件
• 优化的直观软件
• 同时分析粒径，形状，数量，密度和透明度
• 粒子库功能：用于所有粒子的图像和特征的数据库
• 3维尺寸和形态参数的3D云表示
• 圆度和球形度的上等形状参数（ISO13503-2和API RP 56/58/60）
• 多种语言版本（英语，法语，西班牙语，中文，俄语，德语和许多其他语言）
• 一般：
• 详细的粒度分析-结果保存在3,000多个粒度等级中
• *高的准确性和可重复性
• 无接触，无损测量
• 校准秒
• 操作简单，防止操作错误
• 受密码保护的仪器设置
• 自动测量程序
• 坚固的设计，对灰尘和振动不敏感
• 自清洁，无磨损，免维护
• 比筛分分析省时省力

技术数据

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